FT-IR有哪些系统特性?

提供的优势FT- IR光谱仪在早期的色散仪器突出在之前的文章中。在本文中，简要讨论了系统设计特点，有助于这些优势

高速分析-同时扫描光谱范围内的所有波长，实时显示吸收光谱，实现了速度优势。

没有缝隙和光栅-由于没有能量限制元件，在任何给定的时间点都有可能获得入射光束的全部能量。此外，由于高扫描速度，多个光谱可以同时相加，信号平均可以使灵敏度提高几倍

同时调制频率-由于迈克耳孙干涉仪同时调制所有可用频率，因此没有等效杂散光，这有助于光谱的谨慎性。

内置波长校准-该系统使用一个内置的He-Ne激光器，用于内部自动校准单个频率，精度高于0.01 cm -1。然而，仍然建议不时地运行参考聚苯乙烯薄膜光谱，并与安装时参考库中存储的标准光谱进行比较。

无移动组件-除了移动镜外，没有移动部件，最大限度地减少磨损。

缺乏光栅或狭缝程序-确保分辨率的一致性和在整个光谱范围内没有任何不连续

光谱覆盖特征-协助比较标准参考光谱存储在商业光谱或内部图书馆。

该技术固有的高灵敏度允许有效使用附件，如漫反射附件，水平ATR，镜面反射附件，气体电池等，这使得FT-IR是一种可靠的，通用的和快速的材料表征方法。

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